Geometry and bias dependence of trapping effects in planar GaN nanodiodes

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BSO - Titre

Geometry and bias dependence of trapping effects in planar GaN nanodiodes

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DOAI

Identifiant WoS

WOS:000403327900045

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Type d'accès

Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

SPANISH CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES (CDE)

ISSN

2163-4971

Type de document

Notoriété

0 - Sans notoriété

CNRS

Oui

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