Poids de l’Open access dans la production CNRS
Home
Resources
Graphs
Search
Export
Sign in
Titre
Atom probe tomography analysis of SiGe fins embedded in SiO2: Facts and artefacts
XX
BSO - Titre
Atom probe tomography analysis of SiGe fins embedded in SiO 2 : Facts and artefacts
XX
DOI
DOI
10.1016/j.ultramic.2017.04.006
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.ultramic.2017.04.006
XX
Identifiant WoS
WOS:000403985600014
XX
Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
ULTRAMICROSCOPY
XX
ISSN
0304-3991
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
5 - Exceptionnelle
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INP - Institut de physique
XX
uid:/0PKRDZPR
12/10/2021 14:52:45 (latest)
Add field
Share/Export
Powered by
Lodex
9.6.0
