Reliability Compact Modeling approach for Layout Dependent Effects in advanced CMOS nodes

Titre

BSO - Titre

Reliability compact modeling approach for layout dependent effects in advanced CMOS nodes

DOI

DOAI

Identifiant WoS

WOS:000416068500063

Accès ouvert

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OA - Non

Type d'accès

Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS)

ISSN

1541-7026

Type de document

Notoriété

0 - Sans notoriété

CNRS

Oui

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