Poids de l’Open access dans la production CNRS
Home
Resources
Graphs
Search
Export
Sign in
Titre
Lifetime of power electronics interconnections in accelerated test conditions: High temperature storage and thermal cycling
XX
BSO - Titre
Lifetime of power electronics interconnections in accelerated test conditions: High temperature storage and thermal cycling
XX
DOI
DOI
10.1016/j.microrel.2017.06.091
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.microrel.2017.06.091
XX
Identifiant WoS
WOS:000414817500080
XX
Accès ouvert
OA - Oui
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Archive
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
MICROELECTRONICS RELIABILITY
XX
ISSN
0026-2714
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
2 - Acceptable
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/4D5LQDH8
12/10/2021 14:52:56 (latest)
Add field
Share/Export
Powered by
Lodex
9.6.0
