Thick multi-layers analysis using high energy PIXE

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BSO - Titre

Thick multi-layers analysis using high energy PIXE

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DOAI

Identifiant WoS

WOS:000409152800022

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Type d'accès

Non OA

Editeur

Elsevier

Source

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS

ISSN

0168-583X

Type de document

Notoriété

3 - Correcte

CNRS

Oui

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Poids de l’Open access dans la production CNRS