Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Raman and XPS characterization of vanadium oxide thin films with temperature
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BSO - Titre
Raman and XPS characterization of vanadium oxide thin films with temperature
XX
DOI
DOI
10.1016/j.apsusc.2017.01.160
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.apsusc.2017.01.160
XX
Identifiant WoS
WOS:000395952800085
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Accès ouvert
OA - Oui
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Archive
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
APPLIED SURFACE SCIENCE
XX
ISSN
0169-4332
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
5 - Exceptionnelle
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/6B5R0575
12/10/2021 14:52:37 (latest)
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