Statistical Low-Frequency Noise Characterization in sub-15 nm Si/SiGe Nanowire Trigate pMOSFETs

Titre

BSO - Titre

Statistical low-frequency noise characterization in sub-15 nm Si/SiGe nanowire Trigate pMOSFETs

DOI

DOAI

Identifiant WoS

WOS:000413082200030

Accès ouvert

OA - Non

Source - Accès ouvert

OA - Non

Type d'accès

Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

INTERNATIONAL CONFERENCE OF MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS)

Type de document

Notoriété

0 - Sans notoriété

CNRS

Oui

CNRS - Institut

Poids de l’Open access dans la production CNRS