Towards Approximation during Test of Integrated Circuits

Titre

BSO - Titre

Towards approximation during test of Integrated Circuits

DOI

DOAI

Identifiant WoS

WOS:000403405200007

Accès ouvert

OA - Non

Source - Accès ouvert

OA - Non

Type d'accès

Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUIT & SYSTEMS (DDECS)

ISSN

2334-3133

Type de document

Notoriété

0 - Sans notoriété

CNRS

Oui

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