Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon - Part I: Global Approach and Primary Interaction Simulation
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BSO - Titre
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon - Part I: Global Approach and Primary Interaction Simulation
XX
DOI
DOI
10.1109/tns.2016.2615133
XX
DOAI
DOAI
10.1109/tns.2016.2615133
XX
Identifiant WoS
WOS:000396404500020
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Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
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Editeur
IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Source
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
XX
ISSN
0018-9499
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
4 - Excellente
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/9STM6J0X
12/10/2021 14:52:38 (latest)
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