Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Comparative study of dislocation density characterizations on silicon
XX
BSO - Titre
Comparative study of dislocation density characterizations on silicon
XX
DOI
DOI
10.1002/crat.201600224
XX
DOAI
DOAI
10.1002/crat.201600224
XX
Identifiant WoS
WOS:000396359200010
XX
Accès ouvert
OA - Oui
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Editeur
XX
Editeur
Wiley
XX
Source
CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY
XX
ISSN
0232-1300
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
2 - Acceptable
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INC - Institut de chimie
XX
uid:/B0G2FCKW
12/10/2021 14:52:38 (latest)
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