Poids de l’Open access dans la production CNRS
Home
Resources
Graphs
Search
Export
Sign in
Titre
Depth profiling investigation by pARXPS and MEIS of advanced transistor technology gate stack
XX
BSO - Titre
Depth profiling investigation by pARXPS and MEIS of advanced transistor technology gate stack
XX
DOI
DOI
10.1016/j.mee.2016.11.018
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.mee.2016.11.018
XX
Identifiant WoS
WOS:000392901500004
XX
Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
MICROELECTRONIC ENGINEERING
XX
ISSN
0167-9317
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
3 - Correcte
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/B8MWHWJR
12/10/2021 14:52:35 (latest)
Add field
Share/Export
Powered by
Lodex
9.6.0
