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Poids de l’Open access dans la production CNRS

Titre
Single-event-transient effects in Junctionless Double-Gate MOSFETs with Dual-Material Gate investigated by 3D simulation
Identifiant WoS
WOS:000414817500134
Accès ouvert
OA - Inconnu
Source - Accès ouvert
OA - Inconnu
Type d'accès
Inconnu
Editeur

Inconnu

Source

MICROELECTRONICS RELIABILITY

ISSN
0026-2714
Type de document
  • Article
Notoriété
2 - Acceptable
CNRS
Oui
CNRS - Institut
  • INP - Institut de physique
uid:/CVWM1JX6
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