Statistical Characterization and Modeling of Drain Current Local and Global Variability in 14 nm bulk FinFETs

Titre

BSO - Titre

Statistical characterization and modeling of drain current local and global variability in 14 nm bulk FinFETs

DOI

DOAI

Identifiant WoS

WOS:000413082200009

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Type d'accès

Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

INTERNATIONAL CONFERENCE OF MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS)

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CNRS

Oui

CNRS - Institut

Poids de l’Open access dans la production CNRS