Automatic defect localization in VLSI circuits: A fusion approach based on the Dempster-Shafer theory

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Automatic defect localization in VLSI circuits: A fusion approach based on the Dempster-Shafer theory

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WOS:000410938300193

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Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

INTERNATIONAL CONFERENCE ON INFORMATION FUSION (FUSION)

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Oui

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