Systematic evaluation of the split C-V based parameter extraction methodologies for 28 nm FD-SOI

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BSO - Titre

Systematic evaluation of the split C-V based parameter extraction methodologies for 28 nm FD-SOI

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DOAI

Identifiant WoS

WOS:000413082200013

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Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

INTERNATIONAL CONFERENCE OF MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS)

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CNRS

Oui

CNRS - Institut

Poids de l’Open access dans la production CNRS