Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Atomic Scale Structural Characterization of Epitaxial (Cd,Cr)Te Magnetic Semiconductor
XX
BSO - Titre
Atomic Scale Structural Characterization of Epitaxial (Cd,Cr)Te Magnetic Semiconductor
XX
DOI
DOI
10.1017/s1431927617000642
XX
DOAI
DOAI
10.1017/s1431927617000642
XX
Identifiant WoS
WOS:000407563800003
XX
Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
CUP - Cambridge University Press
XX
Source
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
XX
ISSN
1431-9276
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
4 - Excellente
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INP - Institut de physique
XX
uid:/HQCPVB80
12/10/2021 14:52:49 (latest)
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