Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Analysis of composition and microstructures of Ge grown on porous silicon using Raman spectroscopy and transmission electron microscopy
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BSO - Titre
Analysis of composition and microstructures of Ge grown on porous silicon using Raman spectroscopy and transmission electron microscopy
XX
DOI
DOI
10.1016/j.spmi.2017.10.003
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.spmi.2017.10.003
XX
Identifiant WoS
WOS:000418308900052
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Accès ouvert
OA - Non
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Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES
XX
ISSN
0749-6036
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
2 - Acceptable
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INP - Institut de physique
XX
uid:/L3JNFX4Z
12/10/2021 14:52:59 (latest)
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