Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Low frequency noise assessment in n- and p-channel sub-10 nm triple-gate FinFETs: Part II: Measurements and results
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BSO - Titre
Low frequency noise assessment in n- and p-channel sub-10nm triple-gate FinFETs: Part II: Measurements and results
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DOI
DOI
10.1016/j.sse.2016.10.013
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.sse.2016.10.013
XX
Identifiant WoS
WOS:000392680300018
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Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
SOLID-STATE ELECTRONICS
XX
ISSN
0038-1101
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
2 - Acceptable
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INS2I - Institut des sciences de l'information et de leurs interactions
XX
uid:/LVKJLP93
12/10/2021 14:52:34 (latest)
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