Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Guest Editorial: Analog, Mixed-Signal and RF Testing
XX
BSO - Titre
Guest Editorial: Analog, Mixed-Signal and RF Testing
XX
DOI
DOI
10.1007/s10836-017-5663-z
XX
DOAI
DOAI
10.1007/s10836-017-5663-z
XX
Identifiant WoS
WOS:000401266400002
XX
Accès ouvert
OA - Oui
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Editeur
XX
Editeur
Springer
XX
Source
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
XX
ISSN
0923-8174
XX
Type de document
Editorial Material
XX
Notoriété
1 - Médiocre
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INS2I - Institut des sciences de l'information et de leurs interactions
XX
uid:/PN6283N5
12/10/2021 14:52:42 (latest)
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