Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Introduction to the special issue on high-resolution X-ray diffraction and imaging
XX
BSO - Titre
Introduction to the special issue on high-resolution X-ray diffraction and imaging
XX
DOI
DOI
10.1107/s1600576717007257
XX
DOAI
DOAI
10.1107/s1600576717007257
XX
Identifiant WoS
WOS:000402701600001
XX
Accès ouvert
OA - Oui
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Editeur
XX
Editeur
IUCr - International Union of Crystallography
XX
Source
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY
XX
ISSN
1600-5767
XX
Type de document
Editorial Material
XX
Notoriété
4 - Excellente
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/Q9FN51B7
12/10/2021 14:52:44 (latest)
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