Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Depth Resolution Dependence on Sample Thickness and Incident Energy in On-Axis Transmission Kikuchi Diffraction in Scanning Electron Microscope (SEM)
XX
BSO - Titre
Depth Resolution Dependence on Sample Thickness and Incident Energy in On-Axis Transmission Kikuchi Diffraction in Scanning Electron Microscope (SEM)
XX
DOI
DOI
10.1017/s1431927617012697
XX
DOAI
DOAI
10.1017/s1431927617012697
XX
Identifiant WoS
WOS:000419002200005
XX
Accès ouvert
OA - Oui
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Editeur
XX
Editeur
CUP - Cambridge University Press
XX
Source
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
XX
ISSN
1431-9276
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
4 - Excellente
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/QDVSGNB8
12/10/2021 14:52:59 (latest)
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